주요공시
진매트릭스 2019.03.19 12:02
| 1. 특허명칭 | 절단된 상보적인 태그 절편을 이용한 표적 핵산 서열 검출 방법 및 그 조성물 |
| 2. 특허 주요내용 | - 절단된 상보적인 태그 절편을 이용한 표적 핵산 서열 검출 방법 및 그 조성물에 관한 것으로서 유전자 검사, 생물체 동정, 미생물 또는 바이러스의 감염 여부 진단 등에서 신속하고 정확하게 결과를 확인할 수 있음. |
| 3. 특허권자 | 주식회사 진매트릭스 |
| 4. 특허취득일자 | 2019-03-19 |
| 5. 특허 활용계획 | - 본 C-Tag 기술은 질병 원인균의 동시 분석 가능 한계가 개선되고 비특이적 신호 유발을 배제한 차세대 기술로서 분자진단 시장에서의 기술 경쟁 우위 확보에 기여할 것으로 기대함. - 성매개 감염병, 호흡기병원체 진단을 비롯하여 위장관 감염증, 모기매개 감염증 진단 등에 본 기술을 확대 적용하여 분자진단 제품 포트폴리오를 확충할 계획임 |
| 6. 확인일자 | 2019-03-19 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | - 본 특허는 국내 특허임 - 특허출원번호: 10-2017-0049845 - 상기 특허취득일자 및 확인일자는 특허등록료 납부일 기준임. |